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Messen und Prüfen
Analyse von Lötverbindungen
18.06.2025
Die Digitalmikroskop-Serie VHX-X1 erlaubt die detaillierte Analyse von Halbleitern.
Das System untersucht die Oberflächenstrukturen von Bauteilen wie Widerständen und Lötverbindungen. Der 4K-Cmos-Sensor sorgt für eine hohe Auflösung und ist mit 4K-kompatiblen Objektiven ausgestattet. Zudem ermöglicht der Advanced Optical Shadow Effect Mode die Visualisierung feiner Oberflächendetails. Die Bedienung erfolgt leicht über die Konsole und ist auch für unerfahrene Benutzer geeignet. Die Einheit ist individuell konfigurierbar und bietet Anwendern ein breites Spektrum an Mess- und Analysefunktionen.
Firma: Keyence